يكشنبه ۲۷ مرداد ۱۳۹۸ | Sunday 18 August 2019
ورود کاربران | EN | نقشه سایت

ورود به حساب کاربری

نام کاربری
رمز ورود
بخاطر سپردن شما در سیستم

آزمایشگاه ها

ریزساختار و مورفولوژی

 

 میکروسکوپ الکترونی روبشی 1-SEM  
 میکروسکوپ الکترونی روبشی 2-SEM  
 میکروسکوپ الکترونی عبوری TEM  
 میکروسکوپ نوریtiff بررسی سطوح فلزات و سرامیکها، بررسی عیوب و ترک و ایندنت، بررسی مورفولوژی و ابعاد انواع پودر
 میکروسکوپ متالوگرافی  
 میکروسکوپ نیروی اتمی AFMtiff تعیین اندازه ذرات، توپوگرافی سطح، محاسبه پارامترهای زبری و غیره
 آزمون الیپسومتری (Ellipsometry)tiff ضخامت لایه های نازک، اندازه گیری ضریب شکست و ضریب جذب، غیره
 پروفیلومتر (اندازه گیری ضخامت لایه نازک)
 
 آزمون XRD-1 پژوهشكده نيمه هاديهاtiff آنالیز پراش پرتوهای ایکس،تهیه طیف و الگوی پراش،امكان شناسائي فاز
 آزمون پراش پرتو ایکس XRD-2 پژوهشكده نيمه هاديها tiff آنالیز پراش پرتوهای ایکس، تهیه طیف و الگوی پراش، امكان شناسائي فاز
  آزمون پراش پرتو ایکس XRD پژوهشكده سرامیک